高溫老化房，又叫高溫老化機(jī)、高溫老化柜、老化房、煲機(jī)房、燒機(jī)房等，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，PCB板，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備，也是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。

根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)，也是針對(duì)于開關(guān)電源、手機(jī)充電器、電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、監(jiān)視器、LED，生物器材等介面卡等做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備。

老化房外框架構(gòu)采用保溫庫(kù)板隔間組合而成，配上主配電箱、測(cè)試架、溫度控制器、定時(shí)器、各種電器開關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境（40℃-70℃±5℃、電源ON-OFF動(dòng)作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測(cè)試時(shí)間可在0-99.9小時(shí)內(nèi)任意設(shè)定，通過此測(cè)試程序可查出不良品或不良零件，是制程、品管設(shè)備。

由于老化房的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的溫度、電源質(zhì)量、負(fù)載量、工作時(shí)間及操作人員的安全、習(xí)慣等要求，所以，一套合格的老化設(shè)備，應(yīng)該是一套安全可靠，高效節(jié)能、功能齊全和具有可擴(kuò)充性的設(shè)備。

高溫老化房適用于LED、LCD、PCB、電子、電器、通訊、新能源產(chǎn)品在模擬仿真高溫、低溫、濕熱的惡劣環(huán)境中測(cè)試產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性等。

執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 5170.2-2017溫度檢驗(yàn)方法

2、GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)

3、GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)

4、GB/T 2423.3-2008試驗(yàn) Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

5、GB/T 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗(yàn) Db:交變濕熱方法

技術(shù)規(guī)格：

選配功能如下：